祝文亲1，陈凡1，郝锐颖1，王瑞1，林欣2，程珏1，张军营1,2
（1.北京化工大学碳纤维及功能高分子教育部重点实验室，北京 100029；2.北京化工大学常州先进材料研究院，江苏 常州 213164）
摘要：聚硅氧烷的老化过程是一个复杂的过程，对于材料的使用性能有重要的影响。采用有机硅单体水解缩合制备了乙烯基、正丙基和正辛基硅树脂，表征了其基本结构参数，并研究了在N2氛围中有机基团对于残留烷氧基稳定性的影响。通过1H-NMR和 29Si-NMR分析了老化前后其结构变化；采用TGA、DSC和TG-IR联用等分析手段跟踪老化过程中质量损失、焓变和产生的挥发物的特征基团。结果表明，热老化过程中硅乙烯基之间d-pπ共轭效应促进Si—OR键的断裂，同时O原子的电子云密度提高而更易进攻另一分子上的Si原子，从而使得乙烯基硅树脂进一步缩合，并放出乙醚分子。而对于烷基硅树脂在此过程则没有观测到此类缩合。
关键词：聚硅氧烷；共轭效应；亲核取代；老化
中图分类号：TQ324 文献标识码：A 文章编号：1001-5922（2014）12-0000-000
